Il mancato riconoscimento di materiali plastici e polimerici è spesso causato da una distribuzione disomogenea dei componenti usati all'interno del materiale polimerico. E' anche possibile che particelle, fibre o inclusioni possano essere la ragione per questo mancato riconoscimento. Nel caso di materiali compositi strati difettosi o uno strato fatto con un materiale sbagliato avrà un impatto negativo sulle proprietà del prodotto. Visto che spesso questi difetti sono estremamente piccoli, sono spesso difficili e, a volte, addirittura impossibili da analizzare con una misura macroscopica. Tuttavia, un'efficace analisi di mancato riconoscimento comprende l'analisi chimica della regione difettosa del campione. Il microscopio FT-IR LUMOS II è un potente strumento per l'analisi dei mancati riconoscimenti: permette di ottenere spettri IR ovunque sul campione con un'elevata risoluzione laterale e perciò di rilevare la composizione chimica di questa area particolare del campione.
Un esempio per l'analisi di un prodotto difettato con il LUMOS II: un batch di pellet di polietilene contiene inclusioni indesiderate scure. L'immagine visiva al microscopio di un pellet di polietilene con inclusioni scure viene mostrato insieme alle posizioni delle analisi IR:
Gli spettri IR mostrano chiaramente caratteristiche differenti sulla matrice del pellet in PE (spettro blu) e sull'inclusione sconosciuta (spettro rosso). La ricerca in una libreria spettrale identifica l'inclusione come un poliestere (PET):
Il LUMOS II è un sistema compatto stand-alone con un'automazione totale di tutte le componenti hardware. Il software intuitivo del LUMOS II guida l'operatore passo passo attraverso il processo di acquisizione dei dati. Ad ogni passso, l'interfaccia utente fornisce solo le funzioni che risultino appropriate per procedere. Nonostante il LUMOS II sia disegnato per essere utilizzato da personale non esperto per applicazioni routinarie, la sua sensibilità eccezionale lo rende anche estremamante adatto per applicazioni molto complesse.
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