A menudo los defectos en materiales plásticos y poliméricos son debidos a una distribución no homogénea de los componentes utilizados en el material. Otra causa puede ser una contaminación en forma de partículas, fibras o inclusiones. Los defectos de capa en materiales composites, o una capa hecha del material equivocado tendrán un impacto negativo en las propiedades del producto. Como estos defectos son a menudo extremadamente pequeños, resulta muy difícil o imposible analizarlos por métodos habituales. El análisis exitoso de este tipo de muestras tendría que incluir el análisis químico de la región defectuosa de la muestra.
El microscopio LUMOS II en una poderosa herramienta para analizar defectos: Permite obtener espectros IR de cualquier parte de la muestra con una elevada reloción lateral, y revelar la composición química de ese área particular de la muestra.
Ejemplo del análisis de un defecto en un producto con el LUMOS II: Un lote de PE en granza contiene inclusiones no deseadas marrones. Se muestra la imagen visual del microscopio de un gránulo de polietileno con la inclusión marrón junto con las posiciones del análisis IR:
Los espectros IR muestran claramente diferentes características en la matriz del gránulo de PE (espectros azules) y en la inclusión desconocida (espectros rojos). La búsqueda en una biblioteca espectral identifica la inclusión como un poliéster (PET):
| Leer la nota de aplicación sobre identificación de contaminaciones en un plato de policarbonato. |  |
| Leer la nota de aplicación sobre análisis de defectos en materiales para embalaje. | |
| Leer la nota de aplicación sobre identificación de partículas e inclusiones por microscopía IR. | |
| Leer la nota de aplicación sobre identificación de fibras por microscopía IR. | |
El LUMOS II es un sistema independiente y compacto con todos sus componentes automatizados. Su software intuitivo guía al usuario paso a paso durante el proceso de adquisición de datos. En cada paso la interfaz de usuario solo proporciona las funciones apropiadas para continuar el proceso. Aunque el LUMOS II ha sido diseñado para ser usado por usuarios no expertos en aplicaciones de rutina, su excepcional sensibilidad tambien lo hace adecuado para aplicaciones exigentes de investigación.
| Aprender más de nuestro catálogo de las características del LUMOS II. |  |
| Ver ejemplos de cómo la gran distancia de trabajo del LUMOS II facilita el muestreo. | |
