Брак в полимерных и пластиковых изделиях часто вызван неоднородным распределением компонентов, а также загрязнением посторонними включениями: частицами или волокнами. В композитных материалах ошибочный состав или дефект одного слоя негативно сказываются на свойствах всего изделия. Из-за очень малого размера дефекта его сложно обнаружить и уж тем более идентифицировать стандартными методами ИК.
ИК-Фурье микроскоп LUMOS II - это мощный инструмент для отбраковки изделий и идентификации инородных включений. С помощью LUMOS II можно регистрировать ИК-спектр и устанавливать химический состав любого участка образца с высоким пространственным разрешением.
Ниже приведен пример анализа дефекта с помощью микроскопа LUMOS II. Партия полиэтиленовых гранул содержит нежелательные коричневые включения. На микрофотографии образца отмечены точки, в которых регистрировался ИК-спектр.
ИК-спектры полиэтиленовой матрицы (синий) и неизвестного включения (красный) различаются. Поиск по библиотеке спектров показал, что включение состоит из полиэстера.
| Ознакомьтесь со статьей «Идентификация загрязнений в образце поликарбоната». |  |
| Ознакомьтесь со статьей «Выявление брака в упаковочных материалах» | |
| Ознакомьтесь со статьей «Идентификация частиц и включений методом ИК-микроскопии» | |
| Ознакомьтесь со статьей «Идентификация волокон микроскопическим методом» | |
LUMOS II – это компактный автономный полностью автоматизированный микроскоп. С помощью пошагового видеоинтерфейса даже неопытный оператор сможет работать с микроскопом. На каждой стадии пользовательский интерфейс отображает только необходимые функции. Несмотря на простоту работы с LUMOS II, он обладает исключительной чувствительностью и подходит для решения сложных задач.
| Узнайте больше о возможностх LUMOS II из нашей брошюры. |  |
| Посмотрите примеры как большая рабочая область LUMOS II облегчает работу с образцами. | |
