La présence de défauts sur des polymères ou des produits plastiques est souvent causée pour la distribution hétérogène des composants utilisés à l'intérieur du matériau polymère. Des contaminations comme des particules, des fibres ou des inclusions peuvent aussi être la raison du défaut. En cas de matériau composite une couche défectueuse ou une couche faite du mauvais matériau auront un impact négatif sur les propriétés du produit. Comme de tels défauts sont souvent extrêmement petits ils sont difficiles ou même impossible à analyser par une mesure macroscopique. Cependant une analyse de défaut réussie comprend l'analyse chimique de la zone de défaut dans l'échantillon.
Le microscope IRTF LUMOS II est un outil puissant d'analyse de défaut : il permet d'obtenir un spectre IR n'importe où sur l'échantillon avec une grande résolution latérale et ainsi de révéler la composition chimique d'une zone particulière de l'échantillon.
Exemple d'analyse de défaut avec le LUMOS II: un lot de granulés polyéthylène contient des inclusions brunes. L'image visuelle microscopique d'un granulé polyéthylène avec inclusion brune est montrée avec les positions de l'analyse IR:
Les spectres IR montrent clairement des caractéristiques différentes sur la matrice PE (spectres bleus) et sur l'inclusion inconnue (spectre rouge). Une recherche en bibliothèque spectrale identifie l'inclusion comme étant un polyester (PET):
Le LUMOS II est un système compact autonome avec une automatisation complète de tous ses composants. Le logiciel intuitif du LUMOS II guide l'opérateur étape par étape à travers le processus d'acquisition de données. A chaque étape l'interface utilisateur propose les fonctions appropriées pour l'étape en cours. Bien que le LUMOS II soit conçu pour pouvoir être utilisé même par des opérateurs non experts pour des applications de routine, son exceptionnelle sensibilité fait qu'il est aussi tout à fait adapté à des applications très exigeantes.