Defekte von Polymer- und Kunststoffmaterialien sind oft auf die inhomogene Verteilung der eingesetzten Komponenten zurückzuführen. Andere Gründe können Kontaminationen wie Partikel, Fasern oder Einschlüsse sein. Im Fall von Verbundmaterialien kann eine aus dem falschen Material bestehende Schicht einen negativen Einfluss auf die Produkteigenschaften haben. Da solche Defekte oft extrem klein sind, ist eine Analyse mit makroskopischen Messmethoden schwierig oder gar nicht möglich. Jedoch ist die chemische Analyse der Defektstelle in der Probe eine notwendige Voraussetzung für eine erfolgreiche Fehlersuche.
Das FT-IR-Mikroskop LUMOS II ist ein leistungsfähiges Hilfsmittel bei der Schadensanalytik: Es erlaubt überall auf der Probe ein IR-Spektrum mit hoher örtlicher Auflösung zu messen und dadurch die chemische Zusammensetzung einer fehlerhaften Stelle in der Probe zu ermitteln.
Beispiel der Analyse eines Produktfehlers mit dem LUMOS II: Eine Charge Polyethylenpellets enthält braune Einschlüsse. Das visuelle, mikroskopische Bild eines Polyethylenpellets mit braunem Einschluss ist gezeigt zusammen mit den Messpositionen der IR-Analyse:
Die IR-Spektren der PE Pelletmatrix (blau) unterscheiden sich deutlich von denen des unbekannten Einschlusses (rot). Der Vergleich mit einer Spektrenbibliothek identifiziert den Einschluss als Polyester (PET):
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| Lesen Sie die Applikationsnote zur Schadensanalyse von Verpackungsmaterialien | |
| Lesen Sie die Applikationsnote zur Identifizierung von Partikeln und Einschlüssen | |
| Lesen Sie die Applikationsnote zur IR-mikroskopischen Identifizierung von Fasern | |
Das LUMOS II ist ein kompaktes und eigenständiges Analysensystem mit einer vollständigen Automatisierung aller Gerätekomponenten. Die intuitive Software des LUMOS II leitet den Anwender Schritt für Schritt durch die Datenaufnahme. Bei jedem Schritt zeigt die Benutzeroberfläche nur die Funktionen an, welche für den Fortschritt der Messung tatsächlich benötigt werden. Obwohl das LUMOS II für die Nutzung unerfahrener Anwender für Routine-Fragestellungen optimiert ist, ermöglicht seine außergewöhnliche Messempfindlichkeit auch den Einsatz für anspruchsvolle Anwendungen.
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